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Untersuchungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) an Oberflächen von amorphen und kristallinen Festkörpern
(2002)
Das Ziel der vorliegenden Dissertation war die Untersuchung amorpher und kristalliner Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM) zur Gewinnung neuer Kenntnisse über Reibung und atomare Strukturen sowie deren ...
AFM-Untersuchungen auf Elektrodenoberflächen
(2013-07-10)
In der vorliegenden Arbeit wurde eine Analyse der Reibung an Elektroden in Elektrolyten durchgeführt. Dabei wurde das Verhalten der reibenden Körper bei unterschiedlicher Normalkraft und Krümmung (Rauhigkeit) des Kontaktes ...