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Untersuchungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) an Oberflächen von amorphen und kristallinen Festkörpern
(2002)
Das Ziel der vorliegenden Dissertation war die Untersuchung amorpher und kristalliner Oberflächen mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM) zur Gewinnung neuer Kenntnisse über Reibung und atomare Strukturen sowie deren ...