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Punktdefekte in Verbindungshalbleitern untersucht mit der gestörten Winkelkorrelation
(2013-05-29)
Die Dissertation befasst sich mit der Charakterisierung von dotierten Halbleitern, im Speziellen mit AlN, GaN, deren ternäres Verbindungssystem AlGaN und ZnO. Diese Halbleiter mit Wurtzitstruktur finden bereits eine breite ...